模擬分析
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本文提供一套完整的 SPICE 模型驗證流程，透過 PSpice 直流掃描技術，模擬多種特性曲線（如 VBEsat 對 IC等），並結合溫度掃描，協助工程師確認模型參數合理性與模擬準確度。此方法不僅能提升設計可靠性，也可用於元件選型、容差分析。
本文介紹如何在 PSpice 中利用 RND 隨機函數結合 ABM、SUM、VPULSE、MULT 和 VCVS 元件，建立振幅與時間可調的隨機雜訊源。此方法可模擬外部干擾，靈活注入至電路任意位置，有助於分析電路在雜訊環境下的穩定性與可靠性，並支援暫態模擬與蒙地卡羅分析，提升設計的實用性與準確度。
