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整個市場講直接一點就是Advantest和Teradyne兩大巨頭和其他,所以單就測試機這一塊就不提台廠了,而這兩大巨頭2021年前互有領先,然而2021年後就由Advantest拉開差距至今。
這時間的HBM和AI的最初期開始發生,所以原本打進的市場逐漸擴大,最後導致差距拉開。另外,前陣子很紅的記憶體,撇除HBM不看,Flash與DRAM的比例也顯著轉變,記憶體測試DRAM的比例已遠大於Flash。
但也還是有一些轉機的,像是Advantest因產能上限無法交貨更多測試機,而讓Teradyne吃到了一部分空出來的,即使Advantest承諾開增產能以補上缺口,但各大AI大廠也不會讓一家獨大,以免發生漲價、服務品質變差、交不出貨等等的意外發生,2nd source會不會導致趨勢反轉就要看未來如何發展了。
除了測試機本人之外,還有探針、Probe card、Load Board、Socket、Handler這些相關設備或說是掛件也是可以關注的,無論是CP或FT或兩者都需使用到,有的屬於每開一新產品就要跟著換新的設備,而且價格不菲。
在測試這一塊,這兩家各有所長,可以關注CP的site數與analog的能力。
以當前AI晶片的測試,測試項初版要跑到數分鐘甚至是數十分鐘,這時候single-site和multi-site的差別就很大了,以單site和2個site為例,因系統基本上是多進程的關係,單site的時間為1,而2個site的總測試時間可能只會是1.1-1.2的時間,所以是有顯著差距的。
即便測試的中後期會開始剔除了一些非常穩定的測項,但前期收集資料以及後期量產,multi-site都能有效節省時間,這在測試上也是省cost的。
另一個則是Analog能力,以現在AI晶片來說,動輒破百安培的情況時常發生,通常都是要透過Merge Power的方式來達成,所以也可以觀察測試機內使用的Power。
但這裡最需要注意的其實不單止是Power,而是這樣高安培的測試項目會導致燒針,即便各大廠都有推出智慧探針,或即時冷卻功能,但基本上無濟於事,從Trigger到高溫的時間非常快,就算有後續的偵測且快速降溫作用也不太大,在一個瞬間可能就導致燒針了。
燒針會導致碳化使contact失敗,讓後續測試準確度大幅降低,所以發生的時候基本上就要換,台灣基本上知名的探針廠,像穎崴、旺矽,就是股價都在右上角的那幾家。
另外關於高速訊號的部分,可以知道的是某些公司正在把晶片內部測試的loop back電路拿掉以節省成本和空間,而少了這一塊,測試機要使用更高速的訊號,或是將這些原先的電路轉嫁到Prober上。
而光通訊的測試就不熟了,目前可能以德商ficonTEC領先。
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