📘 第 41/120 單元🧲 Body Effect 的工程影響— Vth 是常數,其實它會被「地板高度」改寫

更新 發佈閱讀 12 分鐘

🎯 單元目標

完成本單元後,你將能夠:

  • 建立 Body(基板)在 MOS 中的真實角色直覺
  • 理解為何 VSB 會改變臨界電壓 Vth
  • 了解 Body effect 對類比增益、數位速度、開關導通的影響
  • 在實務設計中知道怎麼避免與怎麼利用

🧭 一、核心直覺(最重要)

MOS 的通道不是漂浮在空中,它「長在矽表面」,矽本身就是 Body(基板)

所以你以為只有 Gate 在決定通道,其實是:

👉 Gate + Body 一起決定通道好不好長。

直覺比喻:地板高度

  • Gate 電壓:像「把地面壓平、壓出一條路」的力量
  • Body 電壓:像「把地面整片抬高或往下挖」

地板高度一變,門檻(Vth)就跟著變。

一句話:

👉 Body effect = 你改了地板高度,Gate 要更用力才壓得出通道。


🧑‍🏫 二、給初學者的補強(很重要)

初學者最常誤會:

「Vth 是 datasheet 寫的固定值」✅但那是 VSB=0 或特定條件下的值。

2.1 你先記一個現象就好(NMOS)

對 NMOS 而言,最常見情況是:

  • Body 多半接 GND(P-substrate)
  • 但 Source 在電路中常常不是永遠 0V(會浮動、會被訊號抬高)

結果:

  • Source 往上升 → VSB 變大 → Vth 被抬高 → MOS 變「更難開」

2.2 初學者必背的「踩雷句」

👉 只要 Source 不在 Body 同一個電位,Vth 就不是常數。


🧠 三、端點關係釐清(工程上常踩雷)

以 NMOS 為例:

  • Source:你通常以為是參考點
  • Body:IC 裡常接最低電位(GND / P-substrate)

定義:

VSB = VS - VB

只要 VSB ≠ 0:

👉 Vth 會改變(通常變高)。


🧠 四、Body effect 的「通道畫面直覺」

4.1 沒有 body effect:VSB = 0

Gate 壓得動,通道好長:

Gate + + + + (夠力)

Oxide ======== Surface: 通道容易形成 Vth: 原本值

4.2 有 body effect:VSB > 0(NMOS 常見)

Source 比 Body 高(或 Body 更低):

Gate + + + + (力量一樣)

Oxide ======== Body 讓耗盡層變更厚 Surface: 通道變難形成 Vth: 變高

直覺一句話:

👉 Body 把通道「拉走」,Gate 需要更大力才能把它拉回來。


🧠 五、物理本質(不用背推導,只記住方向)

Body 與 Source 之間本質是 PN 結:

  • VSB 增加 → PN 結反向偏壓更強
  • 耗盡層變寬 → 表面更難反轉
  • 所以 Vth 上升

工程記憶釘:

👉 耗盡層越厚,門檻越高。


🧠 六、工程後果(最實務)

6.1 數位電路:速度變慢、時序風險上升

Vth ↑ → 在同樣 VGS 下:

  • 驅動電流 ID ↓
  • 充放電變慢 → delay ↑

直覺:

👉 你以為 VDD 固定速度就穩,但 Source 電位浮動會讓 Vth 偷偷變。

典型痛點:

  • critical path 變長
  • near-threshold(低電壓)特別敏感
  • PVT corner 更容易 fail

6.2 類比電路:gm 下降、增益下降、工作點漂移

類比常用飽和區當電流源/跨導元件。

Vth ↑ → overdrive 變小:

VOV = VGS - Vth

VOV ↓ → 常見後果:

  • gm ↓(放大能力下降)
  • ID 可能下降(偏壓漂移)
  • 增益可能下降(尤其依賴 gm·ro 的級)

直覺:

👉 Body effect 會把你辛苦設好的工作點「往外推」。


6.3 開關/取樣:Ron 變大、信號被卡住(最常見的現象)

NMOS 傳高電位時很容易出事:

VS ↑ → VSB ↑ → Vth ↑ → (VGS - Vth) ↓ → ID ↓

→ 最後「越傳越難開」→ 卡在某個電壓

直覺流程圖:

傳高電壓時:

VS ↑

↓ VSB ↑

↓ Vth ↑

↓ VOV = VGS - Vth ↓

↓ 通道變薄 → Ron ↑ → 充電更慢/傳不滿

工程後果:

  • NMOS 單顆做傳輸開關:高電位傳不滿
  • 所以常用 Transmission Gate(NMOS+PMOS 互補)

🧠 七、工程師怎麼處理(避免 / 利用)

7.1 最常見:Body 接固定電位(讓它可預測)

  • NMOS body 接 GND
  • PMOS body 接 VDD
    目的: 👉 讓 VSB 盡量接近 0,或至少行為可預測

7.2 用 Well / Triple-well 隔離(混訊SoC常見)

  • P-well / N-well
  • Deep N-well
  • Triple-well(讓 NMOS body 可獨立偏壓)

目的:

  • 避免 substrate noise
  • 避免 body 被其他訊號拖動
  • 控制 body effect 漂移

7.3 Body bias:把它當旋鈕(先進低功耗技巧)

  • Forward body bias:Vth ↓ → 更快,但漏電↑
  • Reverse body bias:Vth ↑ → 更省電,但變慢

直覺:

👉 Body effect 在先進晶片裡不是缺陷,是可調參數。


🧾 八、一句話記住本單元

🧲 Body effect = Source 不等於 Body 時,Vth 被抬高(NMOS常見)

👉 速度變慢、Ron 變大、偏壓更敏感 👉 但也能用 body bias 當功耗/速度調整旋鈕


🔬 電子學實驗題(41/120)(補強版)

量測 VSB 對 Vth 與導通能力的影響(Body effect 實務版)


🎯 實驗目的

  1. 觀察 VSB 增加時,MOS 導通變弱(同 VGS,ID 下降)
  2. 用量測「看到」Vth 被抬高的等效現象(固定 ID 反推所需 VGS 變大)
  3. 對應實務:Ron 變大、傳輸開關卡住、偏壓漂移

🧰 實驗器材

  • 4端 NMOS(G/D/S/B 最理想)
  • 直流電源:VDD、VG
  • 可調 VB(body bias)電源
  • RD、RS(建議用 RS 量電流)
  • 萬用電表(建議 2 台)

若你手上只有 3 腳 MOS(body 內接),你仍可做「類似現象」:讓 Source 提升(例如在 Source 串電阻、或做傳輸開關)來觀察等效 Vth 上升造成的導通變差,但效果不如 4端清楚。


🔧 實驗接線 ASCII(四端 NMOS)

  +VDD
|
[RD]
|
D ----o 量 VDS
|
| |

VG---| | NMOS

| |

| S ---[RS]--- GND

| B ---- VB (可調)

量測:

  • VRS → ID = VRS / RS
  • 或直接量 ID(不建議,比較容易量測誤差)

🔧 實驗步驟(兩種觀察法都做,報告會很完整)

方式 A:固定 VGS,比較 ID(最直觀)

  1. 設定 VG 固定,例如 VGS=2.5V
  2. 設定 VB=0V(VSB 小)
  3. 掃 VDD(等於掃 VDS),記錄 ID
  4. 改 VB(讓 VB 更低或讓 VS 更高,使 VSB 變大)
  5. 重複掃 VDD,得到第二組 ID–VDS
  6. 比較兩組曲線:VSB 大那組整體會「更低、導通更弱」

方式 B:固定 ID,反推所需 VGS(等效看到 Vth 上升)

  1. 固定 VDD 與 VDS(例如 VDD=3.3V,讓 VDS 有足夠空間)
  2. 設定一個目標電流,例如 ID=1mA
  3. 調整 VG,直到 ID=1mA,記下所需 VGS
  4. 先做 VB=0V,再做 VB≠0 使 VSB 增大
  5. 你會看到:VSB 大時要達到同樣 ID,需要更大的 VGS
    👉 這等效表示 Vth 被抬高

📊 預期實驗結果 ASCII(你會看到的曲線長相)

結果 1:ID–VDS(固定 VGS)在不同 VSB 下

ID

│ VSB小 (VB較高) ────────────╮

│ VSB大 (VB較低) ────────╮ │

││_

└─────────────────────────────────── VDS

你應該觀察到:

  • 同樣 VGS、同樣 VDS:VSB 大 → ID 比較小
  • 低 VDS 的斜率變小 → 等效 Ron 變大

結果 2:ID–VGS(固定 VDS)在不同 VSB 下

ID

│ VSB小 (較早抬升)

│ /

│ /

│ VSB大 / (整條右移:要更大VGS才導通)

│ /

│___________/____________________________ VGS

Vth1 Vth2(較大)

你應該觀察到:

  • VSB 大時曲線「往右移」
  • 固定電流(例如 1mA)時,所需 VGS 變大

✅ 實驗結果的實務解析(把量測連回工程)

解析 1:你量到的「曲線變低」=開關變弱

VSB ↑ → Vth ↑ → VOV=VGS−Vth ↓ → ID ↓

因此你的輸出曲線族整體下移。

工程翻譯:

數位 delay 會增加、時序更危險

  • 同樣 Gate 驅動力下,MOS 更難把負載電容充上去

解析 2:你量到的「低 VDS 斜率變小」=Ron 變大、熱變多

低 VDS 時 ID≈VDS/Ron(直覺近似)

VSB ↑ → Vth ↑ → 通道更薄 → Ron ↑

工程翻譯:

  • 電源開關壓降更大
  • I²Ron 發熱更高
  • 類比開關失真更大(因為 Ron 隨訊號變)

解析 3:你量到的「ID–VGS 右移」=Vth 被抬高(最關鍵證據)

固定 ID 反推 VGS:

VSB 大 → 要更大的 VGS 才到同樣 ID 這就是 body effect 的量測證據。


解析 4:傳輸開關為何會卡住(對應你第40單元的 I–V 直覺)

當你用 NMOS 傳高電位:

  • VS 被訊號抬高
  • VSB 變大
  • Vth 抬高
  • 通道越來越薄
    → 高電位越傳越慢,甚至傳不滿

所以工程上用:

  • Transmission Gate(NMOS+PMOS互補)
  • 或 bootstrapped switch(更進階的取樣保持)
    來避免 body effect + Vth 限制造成的卡點

🧠 本單元工程結論(收束)

👉 Body effect 是 MOS 的「隱形旋鈕」:

  • 你不管它,它就用最糟方式干擾你的速度、Ron、偏壓
  • 你會用它,就能用 body bias 在低功耗晶片裡調速度與漏電


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