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W2 NOTE 補充(2)|Fermi Function × DOS × Boltzmann × n/p 推導 × Ef

更新 發佈閱讀 7 分鐘

1) Fermi function:某個能階「被電子佔據」的機率

Fermi–Dirac 分佈(佔據機率)

f(E) = 1 / (1 + exp[(E − Ef)/kT])

直覺三句話(超好背):

  • E < Ef:f(E) 接近 1(大多被電子佔據)
  • E = Ef:f(E) = 1/2(剛好一半機率被佔據)
  • E > Ef:f(E) 很小(大多空著)

用 Unicode 畫「階梯被溫度抹平」的直覺:

2) Density of States (DOS):不是「有沒有佔據」,而是「有多少位子」
f(E)
1.0 ┤■■■■■■■■■■■
0.5 (E = Ef)
0.0 ┼──────────────→ E
Ef
T ↑ 時:階梯邊緣變鈍(高能階更容易被佔據)

DOS 的意思:每單位能量區間內,系統提供多少個可用狀態(座位)給電子坐。

所以你一定要把這句刻進腦內:

「濃度 = 位子數(DOS)× 坐上去的機率(f)」


3) 由 DOS 與 f(E) 得到電子濃度 n

導帶中的電子濃度是把導帶所有能量的貢獻加總:

n = ∫(Ec→∞) gc(E) · f(E) dE

  • gc(E):conduction band 的 DOS
  • f(E):Fermi function(佔據機率)

3.1 Boltzmann approximation(非退化近似)的由來

E − Ef ≫ kT(也就是 Ef 離導帶邊 Ec 很遠、在導帶尾端區域),則:

f(E) = 1 / (1 + exp[(E − Ef)/kT])

因為 exp[(E − Ef)/kT] 很大 → 1 可以忽略

所以得到 Boltzmann 近似

f(E) ≈ exp[−(E − Ef)/kT]

一句話判斷條件(考場用):

  • Ef 距 Ec 或 Ev 至少「好幾個 kT」 才安全(室溫 kT 約 25 meV,你可以口頭說「要遠大於 kT」)

4) 推導結果:n = Nc exp[−(Ec − Ef)/kT]

在非退化近似下,把 DOS(位子)× Boltzmann f(E)(機率)積分後,會收斂成:

n = Nc · exp[−(Ec − Ef)/kT]

這裡的 Nc 叫做 conduction band 的 effective density of states(等效態密度)。

你不用每次重推 Nc 的細節,但你要記住它的物理意義:

Nc 是導帶「可用座位總量」的有效表示(會隨溫度、有效質量變動)。


5) 電洞濃度 p 的推導:用「空位機率」1 − f(E)

價帶裡討論電洞,最乾淨的寫法是:

p = ∫(−∞→Ev) gv(E) · [1 − f(E)] dE

  • gv(E):valence band 的 DOS
  • [1 − f(E)]:該能階沒有被電子佔據的機率 → 就是「電洞」存在的機率

非退化近似下同樣可得到:

p = Nv · exp[−(Ef − Ev)/kT]

一句話拿分:

  • Ef 越靠近 Ev → (Ef − Ev) 變小 → p 指數暴增
  • Ef 越靠近 Ec → (Ec − Ef) 變小 → n 指數暴增

6) Ef 的位置判讀:用「距離」秒判 n、p

把 n、p 兩式當成「距離 → 數量」翻譯器:

n ∝ exp[−(Ec − Ef)/kT]

p ∝ exp[−(Ef − Ev)/kT]

所以你拿到能帶圖,直接看 Ef:

6.1 三種基本結論(不用算就能先拿分)

(A) Intrinsic(本徵)

  • Ef 在接近 midgap
  • n = p = ni

(B) n-type(非退化)

  • Ef 靠近 Ec
  • n ≫ p

(C) p-type(非退化)

  • Ef 靠近 Ev
  • p ≫ n

7) 退化 vs 非退化:何時 Boltzmann 會失效?

你用「Ef 靠帶邊的程度」判斷:

  • 若 Ef 非常靠近 Ec(甚至進入導帶)或非常靠近 Ev(甚至進入價帶)
    → f(E) 不再是單純的 exp 尾巴 → Boltzmann approximation 失效
    → 必須用完整 Fermi–Dirac(並且載子濃度會比你用 Boltzmann 算得更高)

考場一句話模板:

Ef 距帶邊不再遠大於 kT → 進入退化 → 需用 F–D,Boltzmann 不可靠。


8) 你可以加進 W2 NOTE 的「串接總結句」

把整段濃縮成你風格的一條主線:

先看 Ef 位置(決定佔據機率 f),再乘上 DOS(位子數),積分得到 n、p;非退化時 f(E) 可用 Boltzmann 指數近似,最後化成 n = Nc exp[−(Ec − Ef)/kT]、p = Nv exp[−(Ef − Ev)/kT]。Ef 是總司令:靠近 Ec → n 暴增;靠近 Ev → p 暴增;太靠帶邊 → 退化 → 不能用 Boltzmann。

9) Mass Action Law(質量作用律):n·p = ni²(熱平衡下的硬規則)

在非退化(Boltzmann approximation)且熱平衡時,我們已得到:

n = Nc · exp[−(Ec − Ef)/kT]


p = Nv · exp[−(Ef − Ev)/kT]


兩式相乘:

n·p

= Nc Nv · exp{−[(Ec − Ef) + (Ef − Ev)]/kT}
= Nc Nv · exp[−(Ec − Ev)/kT]
= Nc Nv · exp[−Eg/kT]

其中 Eg = Ec − Ev。

接著定義本徵濃度 ni(intrinsic carrier concentration):

ni = √(Nc Nv) · exp[−Eg/(2kT)]

因此立刻得到 Mass Action Law

✅ n·p = ni²


9.1 一句話拿分(重點條件)

  • 成立條件:熱平衡(equilibrium)
  • 常用範圍:非退化半導體(Boltzmann 近似有效)
  • 直覺:摻雜把 Ef 推向 Ec 或 Ev,會讓 n 變大、p 變小,但在熱平衡下它們的乘積仍被 ni² 鎖住(同溫同材料)。
    → 所以常見速算: n-type:p ≈ ni² / n p-type:n ≈ ni² / p

9.2 你可以放在能帶圖旁的「鎖死直覺」

熱平衡:n ↑  ⇒  p ↓(被 ni² 鎖住)
熱平衡:p ↑ ⇒ n ↓(被 ni² 鎖住)
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