— 你以為是「電源不乾淨」,其實是:雜訊沿著你沒看到的路徑,變成抖動、相位雜訊、底噪、失真、誤碼,最後讓整個系統像被下毒
🎯 單元目標
完成本單元後,你將能夠:1. 建立「污染路徑地圖」:雜訊從哪裡來、怎麼走、最後污染到哪裡
2. 分辨 5 種最常見耦合機制:導通、共阻抗、地彈跳、電容耦合、磁場耦合
3. 用系統語言理解後果:PLL phase noise、ADC ENOB、數位 jitter、RF EVM/BER
4. 學會實務 debug:看波形不只是看 ripple,而是反推「哪條路徑在傳毒」
5. 具備可落地的降噪策略:電源樹、去耦、分區、回流路徑、layout、濾波、shield
🧭 一、先給一句話總結(超核心)
👉 電源雜訊污染系統的核心不是「雜訊有多大」,而是「它走哪條路徑、在什麼頻段、污染到哪個敏感節點」;最致命的通常不是平均 ripple,而是高速 di/dt 造成的地彈跳與共阻抗耦合,以及 switching spur 在敏感頻帶被非線性混頻後變成 jitter/phase noise/底噪。
🧑🎓 初學者白話(先秒懂)
- 噪聲像毒氣:大小不是唯一,更可怕的是它鑽進了哪裡。
- 你看到的 Vout ripple 可能不大,但地線抬了一下、參考點晃了一下,PLL/ADC/SerDes 就開始崩。
- 所以工程師要做的是:抓源頭 → 畫路徑 → 封通道 → 保護受害者。
🧠 二、雜訊來源:毒從哪裡來?(先抓源頭)
2.1 DC–DC switching
- fsw 與諧波
- SW node ringing
- PFM burst(低頻 spur)
2.2 數位切換(SoC/FPGA/DDR)
- 同步切換輸出(SSO)造成巨大 di/dt
- core rail 負載突變(transient)
2.3 高速時脈/SerDes/PLL 活動
- 供電波動轉成 jitter/phase noise
- spur 被調變到輸出
2.4 外部環境/連接器/共模干擾
- USB/車用電源雜訊
- ESD/瞬態尖峰
🧑🎓 初學者白話
- DC–DC:像「一直在切刀」,切得快就會有尖峰與諧波。
- 數位大電流:像「一群人同時開燈」,瞬間電流暴衝,地線跟著抬。
- PLL/SerDes:像「計時器」,供電抖一下就變成「時間抖」(jitter)。
- 外部電源/線材:像「把髒東西從外面帶進來」。
🧠 三、污染不是一條路,是五條路(最重要的「路徑地圖」)
3.1 導通路徑(Conducted)
最直觀:雜訊真的沿著電源線到處跑。
DC-DC ripple → Vrail → 敏感負載
解法通常是:LDO、LC 濾波、電源樹隔離。
初學者白話:
👉 就是「髒水沿水管流到你家」。加濾心(LC/LDO)最直接。
3.2 共阻抗耦合(Common Impedance Coupling)
這是實務最常見、最陰險的一種。
同一段電源線/地線有阻抗 Z(含寄生 L),兩個模組共用它:
- A 的電流脈動 iA
- 流過共用阻抗 Z
- 造成 ΔV = iA · Z
- 結果 B 看到自己的供電在抖
ASCII:
Vrail ---[ Zcommon ]---+--- Block A (di/dt大)
|
+--- Block B (敏感)
直覺:
👉 不是 B 自己吃電造成抖,是 A 把地/電源抬起來,B 被連坐。
初學者白話:
👉 你跟別人「共用同一條細水管」,他一抽水,你這邊水壓就掉。
3.3 地彈跳(Ground Bounce)
當 di/dt 很大,而回流路徑有寄生電感 L:
👉 V = L·di/dt
地電位瞬間跳動=你的參考點在抖。
回流路徑:GND ----(Lparasitic)----
di/dt 大 -> L*di/dt -> GND瞬間抬升
後果:
- ADC 參考點漂
- 比較器門檻漂
- 數位訊號 timing 漂
- PLL control node 被調變
初學者白話:
👉 你以為地是「0V 不動」,其實地線像「橡皮筋」,一拉就跳;參考點跳=全系統都跟著錯。
3.4 電容耦合(Capacitive Coupling)
高 dv/dt 的 SW node 會透過寄生電容耦合到附近敏感線:
SW node ---||--- FB / ADC / RF node
直覺:
👉 隱形電容把雜訊注入敏感節點。
初學者白話:
👉 線靠太近=「隔空漏電」;高 dv/dt 像甩水,水花噴到旁邊那條線。
3.5 磁場耦合(Inductive / Magnetic)
高 di/dt 的 switching loop 會產生磁場,像天線耦合到附近回路:
High di/dt loop ))) → 受害者 loop
直覺:
👉 回路面積越大,越像接收天線。
✅ 核心規則:縮小高 di/dt 迴路面積。
初學者白話:
👉 你的電源迴路如果「繞一大圈」,等於做了一個發射/接收線圈,互相干擾超嚴重。
🧠 四、為什麼雜訊會變成「系統級災難」?
(關鍵在非線性與混頻)
4.1 非線性把高頻 spur「混」成低頻可見誤差
- switching spur 在某節點被整流/飽和/限幅
- 變成低頻底噪或 tone 你看到的可能是:音訊嗡聲、ADC 漂移、PLL spurs
初學者白話:
👉 高頻噪聲像超音波,你以為聽不到;但遇到「非線性元件」就像被降頻,變成你聽得到/量得到的低頻垃圾。
4.2 相位雜訊與抖動:不是幅度噪聲,是時間噪聲
供電噪聲進入:VCO 偏壓 / comparator 參考 / gate delay
👉 轉成 jitter / phase noise
直接擊穿高速通訊與精密量測底線。
初學者白話:
👉 幅度噪聲=「電壓晃」,時間噪聲=「時鐘晃」。SerDes/PLL 最怕的是後者。
🧠 五、三個高科技案例(你立刻懂為何要 PSRR/去耦)
Case A:PLL / VCO(RF 系統)
污染路徑:供電噪聲 → VCO/charge pump → 相位調變
後果:Phase noise↑、EVM 變差、BER↑
常見做法:Buck→LDO、RC/LC、分區、近端去耦、遠離 SW node
初學者白話:
👉 供電一抖,振盪器就像被推一下,頻率/相位就開始亂。
Case B:ADC(高精度量測)
污染路徑:Vref、AVDD 被污染 → 基準漂移
後果:SNR↓、ENOB↓、FFT spur
常見做法:Vref 獨立 LDO、RC 濾波、analog ground 單點匯流、SW node 遠離前端
初學者白話:
👉 ADC 量的是「相對值」,你把尺(Vref)弄髒,量什麼都不準。
Case C:高速數位(DDR/SerDes/SoC)
污染路徑:SSO di/dt → ground bounce;core rail ripple → gate delay 漂移
後果:jitter、timing margin 被吃、間歇性錯誤(最難抓)
常見做法:分頻段去耦、PDN 阻抗設計、電源/地平面完整、縮小高 di/dt loop
初學者白話:
👉 最可怕的是「偶發錯誤」:不是一直錯,是偶爾錯,debug 會痛到懷疑人生。
🧠 六、工程 debug:你該看哪裡?(看波形只是起點)
1. 先看電源頻譜(FFT)
- spur 在哪?
- 固定 fsw?還是 PFM burst?
2. 看敏感節點
- PLL control、Vref、ADC input、clock rail
3. 看 ground
- 同一點換接地方式量測,差很大多半是地彈跳/量測假象
4. 做隔離試驗(最快找路徑)
- 強制 PWM vs PFM
- DC–DC 後加 LDO
- 加 RC/LC 濾波
- 改變去耦位置 若一改就改善:你就抓到污染路徑了。
初學者白話:
👉 先別急著「換料」,先用「隔離實驗」找路徑:能快速把原因縮小 10 倍。
🧠 七、系統級解毒策略(真正高科技做法)
Layer 1:源頭治理(減少毒)
- 降低 SW node ringing(layout + snubber)
- 合理 dead-time(減 body diode/Qrr)
- 合理 fsw(別為小型化把效率/EMI 搞爆)
Layer 2:路徑阻斷(堵住通道)
- 分區供電(digital/analog/RF 分 rail)
- 電源樹:Buck → LDO(敏感 rail)
- 高 di/dt loop 面積最小化
- 回流路徑規劃(別穿敏感區)
Layer 3:受害者強化(提高免疫力)
- 本地去耦(貼 pin)
- 參考節點 RC 濾波
- 差動架構(降共模污染)
- shielding/guarding(高敏節點)
初學者白話:
👉 三層就像:
1. 少產生垃圾(源頭)
2. 不讓垃圾走到你家(路徑)
3. 你家自己裝空氣清淨機(受害者)
🧾 八、一句話記住本單元
☣️ 電源雜訊污染系統:
👉 關鍵不是雜訊大小,而是污染路徑與頻帶;最常見 5 條路徑是導通、共阻抗、地彈跳(L·di/dt)、電容耦合(dv/dt)、磁場耦合(di/dt loop);雜訊會透過非線性與混頻變成相位雜訊、抖動、底噪、失真與誤碼,所以解法是電源樹隔離 + 分頻段去耦 + 回流與迴路面積控制 + 佈局把噪聲逼回「可被處理的路徑」。
🔬 電子學實驗題(91/120)
實驗名稱
電源雜訊污染路徑驗證:共阻抗、地彈跳、耦合與「隔離就好」的工程實驗(完整強化版)
🎯 實驗目的
1. 驗證共阻抗耦合:噪聲源如何讓另一個 rail 跟著抖
2. 驗證地彈跳:量測方式與回流路徑如何影響你看到的「噪聲」
3. 驗證 SW node 耦合:靠近 vs 遠離敏感線,spur 差多少
4. 建立隔離策略:Buck→LDO、RC/LC、去耦位置改動的改善幅度
🧰 實驗器材
- 含 DC–DC 的板(或模組) + 一顆 LDO(可串接)
- 電子負載(可做脈衝 load step)
- 示波器(短地彈簧,最好有差動探棒)
- 若可:電流探棒
- 去耦電容套件:0.01/0.1/1/10µF + 電解
- 若可:可替換的「共用地線/共用電源線」長線(故意加大 Zcommon)
🔧 實驗接線 ASCII 圖(共阻抗示意)
Vrail ----[ Zcommon ]----+---- Load A (脈衝大電流)
|
+---- Load B (敏感)
地彈跳示意:
GND ----(Lparasitic)---- GND_ref
di/dt -> V = L di/dt -> 參考點跳動
🔧 實驗步驟(完整)
A) 共阻抗耦合:讓 A 把 B 拖下水
1. 在 Load A 做脈衝負載(例:0.1A ↔ 0.8A)
2. 同時量測:Vrail(靠近 Load B)、Load B 的供電或敏感節點
3. 故意增加 Zcommon(拉長共用線、換細線)再量一次
📊 預期:Zcommon ↑ → B 的抖動 ↑
✅ 解析:ΔV = iA · Zcommon(含寄生 L),B 被連坐。
B) 地彈跳:同一個點,用不同量法差很多
1. 用長地線量 Vout ripple(故意)
2. 改用短地彈簧量同一點
3. 比較差異
📊 預期:長地線量到更大尖峰(假噪聲)
✅ 解析:長地線=回路天線,收進磁場耦合噪聲。
C) SW node 耦合:敏感線靠近 SW node 的代價
1. 探棒靠近 SW node 觀察 dv/dt
2. 量測敏感節點(FB/analog rail)
3. 改變靠近程度(或用導線模擬)
📊 預期:越靠近 spur 越大、FFT 更髒
✅ 解析:dv/dt 透過寄生電容注入敏感節點。
D) 隔離策略:Buck 後加 LDO / 加 RC/LC
1. Buck 直供敏感負載,量 Vout noise/FFT
2. Buck → LDO 再供敏感負載,量一次
3. 加 RC/LC(若可),再量一次
📊 預期:隔離越完整 spur 越低(注意熱/效率代價)
✅ 解析:隔離是把噪聲逼回可控區,讓濾波/PSRR 吸收。
❓思考問題(5 題)+解析
1. 共阻抗耦合為何很常見?
→ 任何電源/地都有阻抗(含寄生 L),共用就會被 di/dt 連坐。
2. 地彈跳為何對比較器/ADC/PLL 特別痛?
→ 它動的是「參考點」,等於整個座標系在抖。
3. SW node 為何特別容易污染?
→ 高 dv/dt + ringing,最容易寄生電容耦合注入高阻抗敏感線。
4. 為何加 LDO 後系統常突然穩?
→ LDO 提供隔離與一定頻段 PSRR,降低 spur 與共阻抗污染。
5. 為何你量到的噪聲可能是自己量出來的?
→ 長地線形成回路天線;短地彈簧/差動量測才接近真實。
🧠 工程結論
電源雜訊污染不是玄學,是「路徑學」。
你只要能畫出「噪聲從哪裡來、怎麼走、污染到哪個敏感點」,就能用隔離、去耦、回流與佈局把毒斷掉。



