📘 第 91/120 單元☣️ 電源雜訊如何污染系統

更新 發佈閱讀 15 分鐘

— 你以為是「電源不乾淨」,其實是:雜訊沿著你沒看到的路徑,變成抖動、相位雜訊、底噪、失真、誤碼,最後讓整個系統像被下毒


🎯 單元目標

完成本單元後,你將能夠:

1.     建立「污染路徑地圖」:雜訊從哪裡來、怎麼走、最後污染到哪裡

2.     分辨 5 種最常見耦合機制:導通、共阻抗、地彈跳、電容耦合、磁場耦合

3.     用系統語言理解後果:PLL phase noise、ADC ENOB、數位 jitter、RF EVM/BER

4.     學會實務 debug:看波形不只是看 ripple,而是反推「哪條路徑在傳毒」

5.     具備可落地的降噪策略:電源樹、去耦、分區、回流路徑、layout、濾波、shield


🧭 一、先給一句話總結(超核心)

👉 電源雜訊污染系統的核心不是「雜訊有多大」,而是「它走哪條路徑、在什麼頻段、污染到哪個敏感節點」;最致命的通常不是平均 ripple,而是高速 di/dt 造成的地彈跳與共阻抗耦合,以及 switching spur 在敏感頻帶被非線性混頻後變成 jitter/phase noise/底噪。

🧑‍🎓 初學者白話(先秒懂)

  • 噪聲像毒氣:大小不是唯一,更可怕的是它鑽進了哪裡。
  • 你看到的 Vout ripple 可能不大,但地線抬了一下、參考點晃了一下,PLL/ADC/SerDes 就開始崩。
  • 所以工程師要做的是:抓源頭 → 畫路徑 → 封通道 → 保護受害者。


🧠 二、雜訊來源:毒從哪裡來?(先抓源頭)

2.1 DC–DC switching

  • fsw 與諧波
  • SW node ringing
  • PFM burst(低頻 spur)

2.2 數位切換(SoC/FPGA/DDR)

  • 同步切換輸出(SSO)造成巨大 di/dt
  • core rail 負載突變(transient)

2.3 高速時脈/SerDes/PLL 活動

  • 供電波動轉成 jitter/phase noise
  • spur 被調變到輸出

2.4 外部環境/連接器/共模干擾

  • USB/車用電源雜訊
  • ESD/瞬態尖峰

🧑‍🎓 初學者白話

  • DC–DC:像「一直在切刀」,切得快就會有尖峰與諧波。
  • 數位大電流:像「一群人同時開燈」,瞬間電流暴衝,地線跟著抬。
  • PLL/SerDes:像「計時器」,供電抖一下就變成「時間抖」(jitter)。
  • 外部電源/線材:像「把髒東西從外面帶進來」。


🧠 三、污染不是一條路,是五條路(最重要的「路徑地圖」)


3.1 導通路徑(Conducted)

最直觀:雜訊真的沿著電源線到處跑。

DC-DC ripple → Vrail → 敏感負載

解法通常是:LDO、LC 濾波、電源樹隔離。

初學者白話:

👉 就是「髒水沿水管流到你家」。加濾心(LC/LDO)最直接。


3.2 共阻抗耦合(Common Impedance Coupling)

這是實務最常見、最陰險的一種。

同一段電源線/地線有阻抗 Z(含寄生 L),兩個模組共用它:

  • A 的電流脈動 iA
  • 流過共用阻抗 Z
  • 造成 ΔV = iA · Z
  • 結果 B 看到自己的供電在抖

ASCII:

Vrail ---[ Zcommon ]---+--- Block A (di/dt大)

                       |

                       +--- Block B (敏感)

直覺:

👉 不是 B 自己吃電造成抖,是 A 把地/電源抬起來,B 被連坐。

初學者白話:

👉 你跟別人「共用同一條細水管」,他一抽水,你這邊水壓就掉。


3.3 地彈跳(Ground Bounce)

當 di/dt 很大,而回流路徑有寄生電感 L:

👉 V = L·di/dt

地電位瞬間跳動=你的參考點在抖。

回流路徑:GND ----(Lparasitic)----

di/dt 大 -> L*di/dt -> GND瞬間抬升

後果:

  • ADC 參考點漂
  • 比較器門檻漂
  • 數位訊號 timing 漂
  • PLL control node 被調變

初學者白話:

👉 你以為地是「0V 不動」,其實地線像「橡皮筋」,一拉就跳;參考點跳=全系統都跟著錯。


3.4 電容耦合(Capacitive Coupling)

高 dv/dt 的 SW node 會透過寄生電容耦合到附近敏感線:

SW node ---||--- FB / ADC / RF node

直覺:

👉 隱形電容把雜訊注入敏感節點。

初學者白話:

👉 線靠太近=「隔空漏電」;高 dv/dt 像甩水,水花噴到旁邊那條線。


3.5 磁場耦合(Inductive / Magnetic)

高 di/dt 的 switching loop 會產生磁場,像天線耦合到附近回路:

High di/dt loop ))) → 受害者 loop

直覺:

👉 回路面積越大,越像接收天線。

✅ 核心規則:縮小高 di/dt 迴路面積。

初學者白話:

👉 你的電源迴路如果「繞一大圈」,等於做了一個發射/接收線圈,互相干擾超嚴重。


🧠 四、為什麼雜訊會變成「系統級災難」?

(關鍵在非線性與混頻)

4.1 非線性把高頻 spur「混」成低頻可見誤差

  • switching spur 在某節點被整流/飽和/限幅
  • 變成低頻底噪或 tone 你看到的可能是:音訊嗡聲、ADC 漂移、PLL spurs

初學者白話:

👉 高頻噪聲像超音波,你以為聽不到;但遇到「非線性元件」就像被降頻,變成你聽得到/量得到的低頻垃圾。


4.2 相位雜訊與抖動:不是幅度噪聲,是時間噪聲

供電噪聲進入:VCO 偏壓 / comparator 參考 / gate delay

👉 轉成 jitter / phase noise

直接擊穿高速通訊與精密量測底線。

初學者白話:

👉 幅度噪聲=「電壓晃」,時間噪聲=「時鐘晃」。SerDes/PLL 最怕的是後者。


🧠 五、三個高科技案例(你立刻懂為何要 PSRR/去耦)

Case A:PLL / VCO(RF 系統)

污染路徑:供電噪聲 → VCO/charge pump → 相位調變

後果:Phase noise↑、EVM 變差、BER↑

常見做法:Buck→LDO、RC/LC、分區、近端去耦、遠離 SW node

初學者白話:

👉 供電一抖,振盪器就像被推一下,頻率/相位就開始亂。


Case B:ADC(高精度量測)

污染路徑:Vref、AVDD 被污染 → 基準漂移

後果:SNR↓、ENOB↓、FFT spur

常見做法:Vref 獨立 LDO、RC 濾波、analog ground 單點匯流、SW node 遠離前端

初學者白話:

👉 ADC 量的是「相對值」,你把尺(Vref)弄髒,量什麼都不準。


Case C:高速數位(DDR/SerDes/SoC)

污染路徑:SSO di/dt → ground bounce;core rail ripple → gate delay 漂移

後果:jitter、timing margin 被吃、間歇性錯誤(最難抓)

常見做法:分頻段去耦、PDN 阻抗設計、電源/地平面完整、縮小高 di/dt loop

初學者白話:

👉 最可怕的是「偶發錯誤」:不是一直錯,是偶爾錯,debug 會痛到懷疑人生。


🧠 六、工程 debug:你該看哪裡?(看波形只是起點)

1.     先看電源頻譜(FFT)

  • spur 在哪?
  • 固定 fsw?還是 PFM burst?

2.     看敏感節點

  • PLL control、Vref、ADC input、clock rail

3.     看 ground

  • 同一點換接地方式量測,差很大多半是地彈跳/量測假象

4.     做隔離試驗(最快找路徑)

  • 強制 PWM vs PFM
  • DC–DC 後加 LDO
  • 加 RC/LC 濾波
  • 改變去耦位置 若一改就改善:你就抓到污染路徑了。

初學者白話:

👉 先別急著「換料」,先用「隔離實驗」找路徑:能快速把原因縮小 10 倍。


🧠 七、系統級解毒策略(真正高科技做法)

Layer 1:源頭治理(減少毒)

  • 降低 SW node ringing(layout + snubber)
  • 合理 dead-time(減 body diode/Qrr)
  • 合理 fsw(別為小型化把效率/EMI 搞爆)

Layer 2:路徑阻斷(堵住通道)

  • 分區供電(digital/analog/RF 分 rail)
  • 電源樹:Buck → LDO(敏感 rail)
  • 高 di/dt loop 面積最小化
  • 回流路徑規劃(別穿敏感區)

Layer 3:受害者強化(提高免疫力)

  • 本地去耦(貼 pin)
  • 參考節點 RC 濾波
  • 差動架構(降共模污染)
  • shielding/guarding(高敏節點)

初學者白話:

👉 三層就像:

1.     少產生垃圾(源頭)

2.     不讓垃圾走到你家(路徑)

3.     你家自己裝空氣清淨機(受害者)


🧾 八、一句話記住本單元

☣️ 電源雜訊污染系統:

👉 關鍵不是雜訊大小,而是污染路徑與頻帶;最常見 5 條路徑是導通、共阻抗、地彈跳(L·di/dt)、電容耦合(dv/dt)、磁場耦合(di/dt loop);雜訊會透過非線性與混頻變成相位雜訊、抖動、底噪、失真與誤碼,所以解法是電源樹隔離 + 分頻段去耦 + 回流與迴路面積控制 + 佈局把噪聲逼回「可被處理的路徑」。


🔬 電子學實驗題(91/120)

實驗名稱

電源雜訊污染路徑驗證:共阻抗、地彈跳、耦合與「隔離就好」的工程實驗(完整強化版)


🎯 實驗目的

1.     驗證共阻抗耦合:噪聲源如何讓另一個 rail 跟著抖

2.     驗證地彈跳:量測方式與回流路徑如何影響你看到的「噪聲」

3.     驗證 SW node 耦合:靠近 vs 遠離敏感線,spur 差多少

4.     建立隔離策略:Buck→LDO、RC/LC、去耦位置改動的改善幅度


🧰 實驗器材

  • 含 DC–DC 的板(或模組) + 一顆 LDO(可串接)
  • 電子負載(可做脈衝 load step)
  • 示波器(短地彈簧,最好有差動探棒)
  • 若可:電流探棒
  • 去耦電容套件:0.01/0.1/1/10µF + 電解
  • 若可:可替換的「共用地線/共用電源線」長線(故意加大 Zcommon)


🔧 實驗接線 ASCII 圖(共阻抗示意)

Vrail ----[ Zcommon ]----+---- Load A (脈衝大電流)

                         |

                         +---- Load B (敏感)

地彈跳示意:

GND ----(Lparasitic)---- GND_ref

di/dt -> V = L di/dt -> 參考點跳動


🔧 實驗步驟(完整)

A) 共阻抗耦合:讓 A 把 B 拖下水

1.     在 Load A 做脈衝負載(例:0.1A ↔ 0.8A)

2.     同時量測:Vrail(靠近 Load B)、Load B 的供電或敏感節點

3.     故意增加 Zcommon(拉長共用線、換細線)再量一次

📊 預期:Zcommon ↑ → B 的抖動 ↑

✅ 解析:ΔV = iA · Zcommon(含寄生 L),B 被連坐。


B) 地彈跳:同一個點,用不同量法差很多

1.     用長地線量 Vout ripple(故意)

2.     改用短地彈簧量同一點

3.     比較差異

📊 預期:長地線量到更大尖峰(假噪聲)

✅ 解析:長地線=回路天線,收進磁場耦合噪聲。


C) SW node 耦合:敏感線靠近 SW node 的代價

1.     探棒靠近 SW node 觀察 dv/dt

2.     量測敏感節點(FB/analog rail)

3.     改變靠近程度(或用導線模擬)

📊 預期:越靠近 spur 越大、FFT 更髒

✅ 解析:dv/dt 透過寄生電容注入敏感節點。


D) 隔離策略:Buck 後加 LDO / 加 RC/LC

1.     Buck 直供敏感負載,量 Vout noise/FFT

2.     Buck → LDO 再供敏感負載,量一次

3.     加 RC/LC(若可),再量一次

📊 預期:隔離越完整 spur 越低(注意熱/效率代價)

✅ 解析:隔離是把噪聲逼回可控區,讓濾波/PSRR 吸收。


❓思考問題(5 題)+解析

1.     共阻抗耦合為何很常見?

→ 任何電源/地都有阻抗(含寄生 L),共用就會被 di/dt 連坐。

2.     地彈跳為何對比較器/ADC/PLL 特別痛?

→ 它動的是「參考點」,等於整個座標系在抖。

3.     SW node 為何特別容易污染?

→ 高 dv/dt + ringing,最容易寄生電容耦合注入高阻抗敏感線。

4.     為何加 LDO 後系統常突然穩?

→ LDO 提供隔離與一定頻段 PSRR,降低 spur 與共阻抗污染。

5.     為何你量到的噪聲可能是自己量出來的?

→ 長地線形成回路天線;短地彈簧/差動量測才接近真實。


🧠 工程結論

電源雜訊污染不是玄學,是「路徑學」。

你只要能畫出「噪聲從哪裡來、怎麼走、污染到哪個敏感點」,就能用隔離、去耦、回流與佈局把毒斷掉。

 

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2026/02/08
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