田口玄一（Genichi Taguchi，1924年1月1日—2012年6月2日），日本新瀉縣人，統計學家、品質工程學奠基者，提出田口方法與品質損失函數理論。曾任日本電話與電報公司電子通訊實驗室研究員、青山學院大學教授，三次獲得戴明獎，1986年獲Willard F Rockwell Medal。
在1950年，他加入日本電話與電報公司新成立的電子通訊實驗室，在此他訓練工程師使用有效的技巧來提升研發活動的生產力。田口博士在該實驗室待了超過12年的時間，於此期間他逐漸發展了他的獨特的田口品質工程實驗設計方法(SN分析、內側直交表與外側直交表、Noise…)。
1964年，田口博士成為日本東京青山學院大學的教授，此職位田口博士一直待到1982年。1980年，田口以日本質量研究院（Japanese Academy of Quality）主任的身分，接受吳玉印先生之邀請至其美國的公司(ASI美國供應商協會)演講。在這次的訪美活動中，田口再度拜訪 AT&T貝爾實驗室，並由AT&T印度籍研究員Madhav Phadke先生接待。雖然在語言的溝通上有些問題，但田口博士在AT&T貝爾實驗室所指導成功的實驗結果,讓田口方法建立於貝爾實驗室中。(Phadke 也整理了田口在貝爾實驗室的實驗及演講,寫了一本書(書名 Quality Engineering Using Robust Design)。
自1980年田口訪問美國之後，越來越多的美國公司實施了田口方法。雖然有很多的美國統計學者對田口方法持反面的意見，多數的批評來自於田口方法缺乏嚴謹的理論背景做為支撐。然而，由於該方法在業界有不少成功的實績案例，因此很多大型企業（包括3M、Xerox、Ford、ITT....等）開始利用田口方法在各項的產品改良與製程改善。
田口發展其信號雜音比（Signal-To-Noise Ratio，S/N比）,應用在靜態質量特性的實驗設計中，全世界成千上萬的公司普遍採用，並獲得相當不錯的績效。值得一提的是，實驗的重要目的為工程師能夠確實完成最佳化實驗，包括最佳設計組合之確認，而田口方法能讓工程師容易地進行實驗。
